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会员动态

仪综所专家赴意大利参加IEC/SC65B/WG6(系统设备性能测试和评估方法)工作组会议
信息来源:仪器仪表综合技术经济研究所 上传日期:2017-10-13 点击率:162次



2017104-6日,IEC/SC65B/WG6(系统设备性能测试和评估方法)工作组会议在意大利伊塞奥召开,来自德国、美国、意大利、日本、中国等国的13名专家出席会议。机械工业仪器仪表综合技术经济研究所(简称仪综所)陈斌博士作为工作组成员参加了会议。

会上,首先由工作组召集人介绍工作组情况、现有工作的进展以及工作展望。随后与会专家对美国密尔沃基召开的会议情况进行了回顾和讨论,并分别就IEC 62828(工业测量传感器的试验参比条件和试验程序)系列标准的Part1(传感器通用导则)、Part2(压力传感器)、Part3(温度传感器)、Part4(液位传感器)、Part5(流量传感器)的进展情况做了报告和讨论。我所陈斌博士介绍了我国在传感器性能评价方法研究方面取得的进展以及我们起草的IEC TR 62967(传感器主要静态性能指标计算方法)技术报告询问草案修改情况及下一步工作计划,得到了与会专家认可,会议就该技术报告中传感器性能评价方法内容如何纳入到IEC 62828-1部分展开了讨论并提出建议,提议将该议题带回各国工作组中进行专门研究和讨论,并在下一次工作组会议上进行讨论和表决。工作组下次会议定于2018220-22日在德国召开,将进一步讨论标准修订情况。

传感器性能评价方法是各传感器性能评估的基础,为工业生产控制领域、智能制造各个环节以及医疗装备系统集成等应用领域的系统设备性能评估提供保障,我国派专家参与IEC系统评估工作组相关会议,及时跟踪系统设备性能评估国际标准的最新研究进展,同时将我国在传感器性能评价方法相关研究成果推广到国际上,对推进我国自主技术进入国际标准具有重要意义。

会后,与会专家考察了意大利著名的传感器研发制造企业GEFRAN公司的生产车间。

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