日前，创谱科技自主研发的X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪在新加坡国立大学圆满完成安装调试并正式交付使用。这是创谱科技XAFS产品的首个海外项目，标志着创谱科技高端X射线谱学仪器成功迈入国际高校科研平台，实现了从“国内批量交付”到“海外首台落地”的关键跨越。

XAFS是研究材料局部原子结构和电子态的核心手段。通过分析材料在X射线照射下的吸收谱，能够精准获取特定元素价态、配位结构、键长、配位数等核心微观信息，是研究材料科学、催化化学、能源环境、纳米材料等前沿领域不可或缺的工具。