5月15日，北京市第三届发明专利奖颁奖仪式在北京会议中心召开。清华大学与威视共同申请的专利“物质识别方法和设备”获本届发明专利奖一等奖。北京市市长王安顺、国家知识产权局局长申长雨出席会议并讲话。威视副总工程师张丽代表公司领奖。
　　获奖专利“物质识别方法和设备”提出了应用于高能X射线双能成像的物质识别方法，实现了MeV级双能大型货物检查系统应用的关键突破，有效地提升了辐射成像检测的技术水平，为打击恐怖犯罪活动、保障国际公共安全发挥了重要作用。本项目凭借开拓性的技术创新、突出的经济和社会效益、完善的知识产权战略布局荣获一等奖，充分体现了威视技术创新的实力与水平，展示了发明人持续不懈进行技术创新的智慧成果。奖项的获得对激发威视的创新积极性、提升威视知识产权创造和保护水平起到了巨大的推动作用。
　　北京市发明专利奖是北京市政府设立的重要奖项，目的是发挥政府主导作用，鼓励创新主体的创新成果及时取得专利权，提高发明专利质量。本次是第三届发明专利奖，共评出1个特等奖、5个一等奖、10