2019年2月底，北京市第五届发明专利奖颁奖仪式举行。同方威视技术股份有限公司与清华大学共同申请的专利——“CT系统和用于CT系统的探测装置”获本届发明专利奖一等奖。

本获奖专利“CT系统和用于CT系统的探测装置”首创高低能排间距的差别化设计，实现了高低能排向异性的双能探测器结构和基于该结构的高速双能CT检查系统。基于本专利技术，同方威视在国内外首次提出了基于新型探测器结构的双能安检CT成像技术，形成了具有自主知识产权的新一代X射线双能CT安检成像系统，并成功研制出多款应用于民航、海关以及检验检疫等领域的CT安检成像系统。