2026年6月25日，机械工业仪器仪表元器件标准化技术委员会(CMIF/TC17)、全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会传感器分技术委员会(SAC/TC124/SC11)在四川省成都市联合召开了《硅压阻式压力敏感芯片》等四项国家标准审查会。会议由标委会秘书长、沈阳仪表科学研究院有限公司（以下简称“沈阳仪表院”）总经理助理张阳主持。SAC/TC124/SC11副主任委员、沈阳仪表院高级专家费书国出席会议。

中国测试技术研究院（以下简称“中国测试院”）副院长李怀平代表承办单位致辞，表示希望以本次会议为契机，与各单位凝心聚力，共同完善传感器与仪器仪表领域标准体系，以高质量标准助力制造强国与质量强国建设。

全国工业过程测量控制和自动化标委会秘书长、SAC/TC124/SC11标委会副主任委员王春喜在讲话中指出，当前国家对标准化工作提出了全周期、精细化管理的更高要求，鼓励各单位切实发挥标准的支撑引领作用，将标准化工作与国家科研专项深度结合，推动标准成果落地见效。

张阳秘书长系统宣贯了国家及行业标准起草的总体要求，介绍了两个标委会的基本情况与当前标准管理的新政策，明确了本次审查的四项标准制修订工作周期与关键进度节点。

于振毅、谢勇作为主审专家组织委员对《金属粘贴式电阻应变计》《高压组合电器用金属波纹管补偿器》《硅压阻式压力敏感芯片》《压力传感器性能试验方法》四项国家标准送审稿进行了技术审查。经审议，一致认为四项标准的制修订能够适应行业发展新需求，体现了标准的先进性与适用性，同意通过审查。

CMIF/TC17标委会主任委员孙克作总结发言，对各位专家的辛勤工作和中国测试技术研究院的大力支持表示感谢，并希望未来与仪器仪表及传感器产业链上下游的企业单位在标准化和科研领域深化交流合作，共同推动行业高质量发展。